SNA5032A SNA5022A矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀

產(chǎn)品綜述

SNA5000A系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，測(cè)量頻率范圍涵蓋100 kHz-26.5 GHz，支持2端口S參數(shù)測(cè)量，差分(平衡)測(cè)量，時(shí)域測(cè)量，頻譜分析，濾波器插入損耗、帶寬、Q值等一鍵測(cè)量，支持端口阻抗轉(zhuǎn)換、端口擴(kuò)展功能，支持極限測(cè)試、紋波測(cè)試功能，支持夾具仿真和去嵌入功能，支持線(xiàn)性頻率掃描、對(duì)數(shù)頻率掃描、分段頻率掃描、線(xiàn)性功率掃描方式，支持SOLT、SOLR、TRL、Response、Enhanced Response等完備的校準(zhǔn)方法，可滿(mǎn)足研發(fā)，生產(chǎn)等各種環(huán)境下的應(yīng)用。

指標(biāo)特色

l                      頻率范圍：100 kHz- 26.5 GHz

l                      頻率分辨率：1 Hz

l                      幅度分辨率：0.05 dB

l                      中頻帶寬范圍：10 Hz~3 MHz

l                      輸出功率設(shè)置范圍：-55 dBm ~ +10 dBm

l                      動(dòng)態(tài)范圍：125 dB

l                      校準(zhǔn)類(lèi)型：響應(yīng)校準(zhǔn)，增強(qiáng)響應(yīng)校準(zhǔn)，單端口校準(zhǔn)，全二端口校準(zhǔn)，TRL校準(zhǔn)

l                      測(cè)量分析類(lèi)型：S參數(shù)測(cè)量，差分（平衡）測(cè)量，接收機(jī)測(cè)量，時(shí)域分析、極限測(cè)試、紋波測(cè)試、帶寬分析、阻抗轉(zhuǎn)換、端口匹配、去嵌功能、頻譜分析功能、頻偏功能、標(biāo)量混頻器測(cè)量、脈沖測(cè)量等

l                      支持直流偏置功能

l                      通信接口：LAN，USB Device，USB Host（USB-GPIB）

l                      遠(yuǎn)程控制：SCPI/ Labview/ IVI based on USB-TMC/ VXI-11/ Socket/ Telnet/ Webserver

l                      觸摸控制：Multi Touch，Mouse，Keyboard

l                      屏幕尺寸：12.1英寸

l                      視頻輸出：HDMI

型號(hào)說(shuō)明

低噪聲，高動(dòng)態(tài)范圍

系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍是VNA一個(gè)非常重要的指標(biāo)，它是VNA源的最大輸出功率與測(cè)試端口本底噪聲的差值。SNA5000A擁有最大125 dB的動(dòng)態(tài)范圍，可適用于對(duì)動(dòng)態(tài)范圍要求比較高的測(cè)試場(chǎng)景，比如同時(shí)測(cè)量濾波器的通帶和帶外抑制性能。

*外觀(guān)設(shè)計(jì)

不管是在研發(fā)還是在現(xiàn)代化的生產(chǎn)線(xiàn)，區(qū)別于傳統(tǒng)笨重的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，SNA5000A超前的外觀(guān)設(shè)計(jì)都能為工程師或者產(chǎn)線(xiàn)節(jié)省大量的桌面空間。

多樣化的顯示

除開(kāi)外觀(guān)設(shè)計(jì)，其*用戶(hù)界面，配合上12.1英寸超大觸摸屏與外接的鼠標(biāo)和鍵盤(pán)，讓工程師能更快的添加或刪除窗口，通道和跡線(xiàn)。SNA5000A支持在多個(gè)窗口下，添加多條跡線(xiàn)進(jìn)行S參數(shù)測(cè)量。并且測(cè)量結(jié)果，可以多種數(shù)據(jù)格式顯示，如 Log Mag，Lin Mag，Phase，Delay，Smith，SWR，Polar等，可以方便快捷地分析被測(cè)物的傳輸系數(shù)，反射系數(shù)，駐波比，阻抗匹配，相位，延時(shí)等參數(shù)。

時(shí)域分析功能及眼圖功能

在微波射頻領(lǐng)域，如何有效消除有害的測(cè)試夾具效應(yīng)是一大挑戰(zhàn)。比如在對(duì)SMD器件進(jìn)行測(cè)試時(shí)需要特定的測(cè)試夾具實(shí)現(xiàn)測(cè)試儀器測(cè)試端與器件輸入端的轉(zhuǎn)接，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果中包含了測(cè)試夾具的特性。目前SNA5000A系列提供的去除測(cè)試夾具影響的方法主要有：端口延伸，端口匹配，端口阻抗轉(zhuǎn)換，去嵌入，適配器移除等。

另外，SNA5000A系列還支持TDR時(shí)域反射計(jì)測(cè)量功能，可在時(shí)域?qū)鬏斁€(xiàn)的特征阻抗，時(shí)延等參數(shù)進(jìn)行分析。

SNA5032A SNA5022A矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀參數(shù)