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MICROTEST/益和匝間短路測試儀 7750系列

  • 產(chǎn)品型號:
  • 更新時(shí)間:2024-11-26

簡要描述:MICROTEST/益和匝間短路測試儀 7750系列檢測技術(shù)采用方式為『非破壞性、高速脈沖電壓與阻尼振蕩波形比對』施加脈沖電壓于繞組線圈的兩端,在不破壞被測物的條件下,透過L/C諧振產(chǎn)生阻尼衰減振蕩波形,進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)品與被測物比對兩者間的瞬間波形,在產(chǎn)品壽命性質(zhì)量下提前檢出層間短路、內(nèi)部線圈或磁芯絕緣瑕疵的不良品。

產(chǎn)品詳情

MICROTEST/益和匝間短路測試儀 7750系列 

MICROTEST/益和匝間短路測試儀 7750系列產(chǎn)品簡介

同系列型號:7750-1 7750-5 7750-10

 

?最小電感值0.2μH

?電壓補(bǔ)償功能

?高速脈沖取樣率200MHz/9bits

?崩潰電壓測試

?穩(wěn)定速測試:7/

?儀器內(nèi)建可儲存128組測試波形

?USB Host快速存取測試畫面

?五種波形比對,檢測繞線組件層間短路不良

 

7750層間短路測試儀檢測技術(shù)采用方式為『非破壞性、高速脈沖電壓與阻尼振蕩波形比對』施加脈沖電壓于繞組線圈的兩端,在不破壞被測物的條件下,透過L/C諧振產(chǎn)生阻尼衰減振蕩波形,進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)品與被測物比對兩者間的瞬間波形,在產(chǎn)品壽命性質(zhì)量下提前檢出層間短路、內(nèi)部線圈或磁芯絕緣瑕疵的不良品。

 

MICROTEST/益和匝間短路測試儀 7750系列參數(shù)

型號

脈沖電壓

最小電感量

可程式化

7750-1

10V-1200V

≥0.1μH

電壓解析度 0.1V

******0.028焦耳

7750-5

100V-5200V

≥10μH

電壓解析度 1V

******0.5焦耳

7750-10

200V-10000V

≥20μH

電壓解析度 5V

******2焦耳

 

 

 

脈沖電壓精準(zhǔn)度

±1% of setting5V

7750-1

±1% of setting10V

7750-5

±1% of setting20V

7750-10

基本量測時(shí)

7/

脈沖施加數(shù)

******32

波形采樣率

200MHz/9 bit

輸入阻抗

20MΩ

測試項(xiàng)目

總面積比對

面積差比對

二階微分比對

電暈數(shù)比對

支援崩潰電壓測試

支援此功能

Remote 信號

Remote輸出信號

PASS/FAIL/TEST/READ/HV ON

 

Remote輸入信號

START/STOP

內(nèi)建儲存

128

界面

USB Host/DeviceRS-232、Remote

GPIB、LAN選配

電源需求

電壓98Vac-132Vac192Vac-264Vac

頻率50/60Hz±5%

液晶屏幕

7TFT,彩色顯示(800*480)

操作環(huán)境

溫度:0-40、濕度:20-80%RH

外觀尺寸(W*H*D)

430x132x370 mm

重量

7Kg

 


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