致茂三維光學(xué)輪廓儀 3D MODEL 7503 Chroma 致茂三維光學(xué)輪廓儀 3D MODEL 7503乃利用掃描白光干涉技術(shù)所發(fā)展之次奈米三維光學(xué)輪廓量測儀,透過精密的掃描系統(tǒng)以及創(chuàng)新算法進行微奈米結(jié)構(gòu)物表面輪廓的量測與分析。
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2024-11-24 - 02
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